АО «Государственный научно-исследовательский и проектный институт редкометаллической промышленности «Гиредмет», Москва
6 211 посетителей с 16 июня 2016
Статус:
ДействующееОфициальный сайт
giredmet.ruИНН
7706699062ОГРН
5087746203353Адрес
119017, Россия,Б.Толмачёвский пер., дом 5, стр. 1
(495) 708-44-66
Лабораторные испытания и анализ неорганических веществ и материалов
редкие металлы полупроводник материаловедение аналитическая лаборатория электролаборатория лаборатория измерения испытательная лаборатория
- Пробоподготовкацена по запросу
- Определение матричных, сопутствующих и легирующих компонентовцена по запросу
- Определение основного компонента гравиметрическим методомцена по запросу
- Определение примесного элементного состава веществ и материаловцена по запросу
- Определение влажности (потерь при прокаливании)цена по запросу
- Составление сопровождающих документовцена по запросу
- Измерение удельного электросопротивления полупроводниковых материалов - до 10 000 Ом·смцена по запросу
- Измерение времени жизни носителей заряда в кремнии методом спада фотопроводимости - до 1000 мкс при удельном электросопротивлении не менее 0.5 Ом·смцена по запросу
- Определение типа проводимости полупроводниковцена по запросу
- Измерение концентрации и подвижности носителей заряда методом Холлацена по запросу
- Определение типа и концентрации мелких примесных центров в кремнии методом низкотемпературной фотолюминесценциицена по запросу
- Определение параметров и локального распределения глубоких центров в полупроводниках методами релаксационной спектроскопии и катодолюминесценциицена по запросу
- Определение кислорода и углерода в кремнии оптическим методомцена по запросу
- Определение локальной концентрации примесей и их пространственного распределения в неорганических материалах методом локального рентгеноспектрального анализацена по запросу
- Определение химического состояния элементов в неорганических материалах методами фотоэлектронной и Оже-спектроскопиицена по запросу
- Оптические измерения фононных спектров в неорганических материалахцена по запросу
- Измерение спектральных зависимостей фотопроводимости в полупроводниковых структурах в диапазоне волновых чисел 10-5000 см-1цена по запросу
- Определение напряжений в полупроводниковых материалах прозрачных в ближней ИК области с помощью метода фотоупругости.цена по запросу
- Измерение микрохрупкости и микротвердости в диапазоне температур 100-600oС с помощью индентора Кнуппа и Виккерса.цена по запросу
- Измерение микронеоднородности распределения удельного сопротивления и концентрации свободных носителей заряда в монокристаллах Ge и Siцена по запросу
- Проведение комплексных исследований физическо-химических и структурных свойств образцов кристаллов кремнияцена по запросу
- Проведение комплексных исследований физическо-химических и структурных свойств образцов выращенных из расплава монокристаллов полупроводниковых материаловцена по запросу
- Анализ объектов окружающей среды (почвы, воды, воздуха) на содержание тяжелых металловцена по запросу
- Разработка стандартов, технических условий и других нормативных документов на методы... редких, цветных, драгоценных металлов, соединений и сплавов на их основе.цена по запросу
- Сертификация металлсодержащих лома и отходовцена по запросу